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真空衰減法檢漏儀

簡(jiǎn)要描述:MidiTEST真空衰減法檢漏儀是一種無損、干式密封完整性測(cè)試工作站,在QC/QA測(cè)試期間用于檢測(cè)非多孔測(cè)試條包裝中的泄漏,該泄漏可能由穿孔、針孔、密封區(qū)域的通道泄漏或機(jī)械薄弱密封等缺陷引起。MidiTEST是傳統(tǒng)氣泡排放和藍(lán)色染料泄漏測(cè)試的自然升級(jí)。
MidiTEST進(jìn)行無損、干密封完整性測(cè)試,這意味著測(cè)試完成后,任何被認(rèn)為無缺陷的包裝都可以重新引入生產(chǎn)線,大大減少浪費(fèi)和成本。

  • 產(chǎn)品型號(hào):MidiTEST
  • 廠商性質(zhì):代理商
  • 更新時(shí)間:2023-05-25
  • 訪  問  量:1316
詳情介紹
品牌其他品牌價(jià)格區(qū)間面議
產(chǎn)地類別進(jìn)口應(yīng)用領(lǐng)域醫(yī)療衛(wèi)生,食品,生物產(chǎn)業(yè),農(nóng)業(yè),制藥
測(cè)試通道兩通道、四通道和十通道為標(biāo)準(zhǔn),其他配置可根據(jù)要求提供測(cè)試周期時(shí)間低至10秒(性能取決于包裝尺寸、真空度和頂部空間)

真空衰減法密封性測(cè)試

當(dāng)前歐美等發(fā)達(dá)國(guó)家各類無損密封性檢測(cè)方法已經(jīng)廣泛應(yīng)用于藥品包裝密封性檢測(cè),其中,真空衰減法是無損密封性檢驗(yàn)的通用解決方案。其原理,就是通過對(duì)測(cè)量室抽真空至目標(biāo)壓強(qiáng),從而在包裝件與測(cè)量室之間的營(yíng)造壓差環(huán)境。在此環(huán)境中,氣體透過包裝上的微小漏孔散逸并充盈在測(cè)量室中,導(dǎo)致測(cè)量室內(nèi)壓強(qiáng)上升,利用已知壓差、時(shí)間間隔 、壓強(qiáng)的上升量可計(jì)算出漏率。

微泄露密封性測(cè)試儀適用于包裝物密封性測(cè)試,采用真空/壓力衰減法測(cè)試原理,*無損檢測(cè)技術(shù),滿足ASTM測(cè)試方法和FDA標(biāo)準(zhǔn)。高精度CCIT測(cè)試技術(shù)能夠檢測(cè)到微型小孔的泄露??捎糜谖髁制?、安瓿瓶、輸液瓶、預(yù)充針、滴眼劑瓶、泡罩包裝等大容量、小容量注射液及凍干產(chǎn)品的密封完整性驗(yàn)證。廣泛被制藥廠家、第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)、藥檢機(jī)構(gòu)等使用。

將微泄露密封性測(cè)試儀主機(jī)連接到一個(gè)特別設(shè)計(jì)用來容納需要被測(cè)物的測(cè)試腔內(nèi)。儀器對(duì)測(cè)試腔進(jìn)行抽真空,包裝物內(nèi)外形成壓力差,在壓力的作用下包裝物內(nèi)氣體通過漏孔擴(kuò)散到測(cè)試腔內(nèi),傳感器技術(shù)檢測(cè)時(shí)間和壓力的變化,與標(biāo)準(zhǔn)值進(jìn)行比較,從而判斷試樣是否泄漏。

不同于以往的水檢法對(duì)試樣造成的破壞,儀器采用真空衰減法測(cè)試原理實(shí)現(xiàn)無損檢測(cè)技術(shù)。采用非破壞性檢測(cè)方法對(duì)盛有藥品的包裝進(jìn)行泄漏檢測(cè),測(cè)試后樣品無損傷不影響正常使用,測(cè)試成本低;測(cè)試結(jié)果非主觀性判斷,無需人工參與,數(shù)據(jù)準(zhǔn)確性與客觀性。高精度的測(cè)試技術(shù)能夠檢測(cè)到微型小孔的泄漏。

技術(shù)使得用戶盡量減少費(fèi)用開支,使儀器具備有較好的檢測(cè)適應(yīng)性;可用于檢測(cè)微小漏孔,也可以鑒別大漏孔樣品,并給出合格與不合格的判斷;

是一種高規(guī)格的干式包裝檢漏儀,旨在解決護(hù)理點(diǎn)測(cè)試(POCT)耗材制造中的QA/QC需求。

MidiTEST真空衰減法檢漏儀是一種無損、干式泄漏密封完整性測(cè)試工作站,在QC/QA測(cè)試期間用于檢測(cè)非多孔測(cè)試條包裝中的泄漏,該泄漏可能由穿孔、針孔、密封區(qū)域的通道泄漏或機(jī)械薄弱密封等缺陷引起。MidiTEST是傳統(tǒng)氣泡排放和藍(lán)色染料泄漏測(cè)試的自然升級(jí)。

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MidiTEST由一個(gè)分為單獨(dú)隔間(通道)的前裝載托盤組成,允許同時(shí)測(cè)試測(cè)試條包。MidiTEST的工作原理是測(cè)量真空環(huán)境下包裝產(chǎn)生的反作用力。通過監(jiān)測(cè)力讀數(shù),可以在幾秒鐘內(nèi)檢測(cè)到尺寸小于10μm的孔。

MidiTEST進(jìn)行無損、干密封完整性測(cè)試,這意味著測(cè)試完成后,任何被認(rèn)為無缺陷的包裝都可以重新引入生產(chǎn)線,大大減少浪費(fèi)和成本。

該工作站具有基于 PC 的虛擬儀器控制系統(tǒng),具有 HMI 觸摸屏,可提供易于閱讀的結(jié)果、指示和圖形測(cè)試數(shù)據(jù),以便于分析。用戶可以按照標(biāo)準(zhǔn) 21 CFR Part 11 打印和存儲(chǔ)測(cè)試結(jié)果和元數(shù)據(jù)。

MidiTEST真空衰減法檢漏儀特征

●無損干泄漏試驗(yàn)方法

●自調(diào)整傳感器

●多通道測(cè)試(標(biāo)準(zhǔn)為兩通道、四通道和十通道,可定制配置)

●可以檢測(cè)到小于10μm的孔

●操作簡(jiǎn)單

●無需專業(yè)工具

●測(cè)試周期短

●基于PC的控制系統(tǒng)

●不銹鋼外殼工作和 CGMP 合規(guī)性

●高級(jí)軟件容易完成多種參數(shù)設(shè)置

●USB 和 RS232 便于數(shù)據(jù)檢索或存儲(chǔ)

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前面板顯示屏幕,提供易于閱讀的結(jié)果、指示和圖形測(cè)試數(shù)據(jù)以幫助分析。用戶可以存儲(chǔ)符合 21CFR Pt 11 的測(cè)試和元數(shù)據(jù)并將其輸出到打印機(jī)。

顯示選定傳感器位置的測(cè)試結(jié)果,顯示相關(guān)測(cè)試條組件的良好密封完整性。


技術(shù)規(guī)格

測(cè)試通道數(shù)量

兩通道、四通道和十通道為標(biāo)準(zhǔn),其他配置可根據(jù)要求提供

測(cè)試條尺寸

4通道:上限35Hx90Wx140mmD

10通道:上限10Hx60Wx100mmD

顯示屏

4通道:8.4英寸800x600 SVGA

10通道:17英寸1280x1024 SXGA

控制系統(tǒng)

通過電阻式觸摸屏控制虛擬儀器

測(cè)試周期時(shí)間

低至10秒(性能取決于包裝尺寸、真空度和頂部空間)

測(cè)試方法

不受限制(存儲(chǔ)容量除外)

外部接口

2xUSB2.0  1個(gè)RJ45以太網(wǎng)端口

表現(xiàn)值

靈敏度:體積為200mm3的10μm孔

重復(fù)性:±10%的讀數(shù)(假設(shè)相同的啟動(dòng)條件)

上限測(cè)試包尺寸:高35mm,寬90mm,深140mm(標(biāo)準(zhǔn)配置)

儀器尺寸

4通道:高度=1380mm,寬度=780mm,深度=650mm

10通道:高度=1495mm,寬度=885mm,深度=630mm

工作溫度

0-40°C(儲(chǔ)存溫度0-50°C)

濕度

10%至90%不凝結(jié)

電源

230V/50 Hz,350VA(峰值)或110V/60Hz,350VA(峰值)-請(qǐng)說明

空氣供給

6.0Bar

重量

4通道系統(tǒng):105kg

10通道系統(tǒng):120kg

制造標(biāo)準(zhǔn)

安全:EN   61010-1:2010  符合性:CE 和 UKCA 標(biāo)志

外殼:AISI 304 不銹鋼  測(cè)試室:HE30 鋁,硬質(zhì)陽極氧化






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